氧化诱导测试仪采用差热分析法或差示扫描量热法，可以简单快速测量电缆绝缘和护套材料的氧化诱导期，因此应用十分普遍。目前国内外都有相应标准试验方法加以规定。但在实际测试中，OIT的数据结果重复性不好。同一种材料测得的数据分散性往往超出了正常的试验允许误差范围。因此测试条件的正确选择非常重要。
主要特点:
1、全新的炉体结构，更好的解析度和分辨率以及更好的基线稳定性；
2、数字式气体质量流量计，精确控制吹扫气体流量，数据直接记录在数据库中；
3、仪器可采用双向控制（主机控制、软件控制），界面友好，操作简便；
下面我们一起去看看，氧化诱导测试仪的测试条件选择与确定，主要有以下3点：
1、样品因素
样品的主要影响因素在于抗氧剂在树脂中的分散程度不均匀而造成OIT的数值分散性，有数据表明，在一般的材料体系中，OIT的偏差为±2、6min甚至于更大。因此，在其他因素均已严格控制的理想情况下，电缆材料的OIT仍有一定的数据分散性，其分散范围与抗氧剂的分散程度均匀有关。除此之外，样品的质量大小对OIT的影响可忽略。
2、操作因素
温度控制是在其他测试条件相同的情况下，改变温度所测得的PC的氧化诱导期。随着温度的升高，氧化诱导期迅速减小，由此可见准确的温度控制对于氧化诱导期的测量非常重要。
3、仪器因素
用于无机和非金属材料分析，此时气体能直接从试样旁流过，较好地实现了气体氛围的转换。而采用平顶石英罩管时，由于气体的进出口都在样品杆下方，位于样品杆上方试样周围的气体无法迅速*置换，从而带来很大的试验误差。
OIT的测量是指样品在某一固定温度下，从接触氧气的一瞬间开始计时，至材料发生氧化反应大量放热所经历的时间长短。在炉体的冷却水或进出水口方向接错，都会使得冷端温度高于补偿电路中铜电阻的温度(室温)，从而影响温度的准确测量，直接导致试验误差。
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